Optimizirajte proces z novim MATRIX-F II



Poleg stremenja k najvišji kakovosti končnega izdelka je danes vse bolj pomembno tudi izboljšanje učinkovitosti proizvodnje. Z natančnejšim vpogledom v proizvodni proces je mogoče optimizirati uporabo materialov in odpraviti materiale, ki ne ustrezajo specifikacijam. S tem se je mogoče izogniti stroškom predelave ali odstranjevanja.

Prednosti analize FT-NIR v realnem času so dobro znane, vendar je običajne spektrometre mogoče namestiti le v neposredno bližino procesa (običajno na težko dostopne kraje), zaradi česar so analizatorji izpostavljeni drastičnim temperaturnim spremembam, prahu in umazaniji. Z uporabo MATRIX-F II se problemom izognemo z uporabo sond iz optičnih vlaken. Te so fiksno nameščene v procesnh točkah, medtem ko je analizator MATRIX-F II nameščen v dostopnem in prijaznem okolju.

MATRIX-F II je edini spektrometer FT-NIR, ki lahko meri materiale v stiku ali brez stika z enim samim instrumentom.

Napredna tehnologija MATRIX-F II omogoča:

- natančne rezultate v nekaj sekundah
- pridobivanje rezultatov večih komponent na meritev
- nedestruktivno analizo
- hkratni priklop 6-ih sond
- robustno zasnovo
-  10 let garancije za gibljive dele interferometra in polprevodniški laser
- enostavno vzdrževanje
- neposredni prenos metode

MATRIX-F II je bil zasnovan za zanesljivost in enostavno vzdrževanje, kjer lahko potrošne komponente uporabnik zamenja sam, brez kakršne koli ponovne uravnave optike. Nov svetlobni vir NIR ima predvideno delovanje 3 leta, laserska dioda pa več kot 10 let.

MATRIX-F II je v povezavi s programsko opremo OPUS lahko uporabljen tako v EX-okolju kot v farmacevtskih obratih.

MATRIX-F II... uporaba sond iz optičnih vlaken

Matrix-f.PNG

MATRIX-F II EMISSION ... uporaba brezkontaktnih sond

matrix-f emission.PNG

MATRIX-F II DUPLEX ... uporaba sond iz optičnih vlaken in brezkontaktnih sond

matrix-f duplex.PNG

Več o: MATRIX-F II FT-NIR Spectrometer | Bruker