Ponudba
Aplikacije
Servis & podpora
Kontakt
Izobraževanje
O nas
Novice
SI
CZ
EN
SI
HR
Česky
|
English
|
Slovenija
|
Hrvatska
Napredne raziskave in razvoj
Tehnika
FTIR spektrometri
FTIR mikroskopi
Ramanski spektrometri
Ramanski mikroskopi
FT-NIR spektrometri
Analizatorji plinov
Analizatorji mleka
Namenski sistemi
OPUS programska oprema
Mikroskopija z atomsko silo
Namen
R&D
Proces
Rutinski QA/QC
Ponudba
ALPHA II
BRAVO
CryoSAS
EM 27
HI 90
HYPERION II
IFS 125HR
INVENIO serije
LiteScope™
LSM modul
LUMOS II
MATRIX-F II
MATRIX-MF
MATRIX-MG
MIRA
Mobile-IR II
MPA II
MultiRAM
OMEGA 5
OPS
OPUS
RAM II
RamanScope III
SENTERRA II
SiBrickScan
SIGIS 2
TANDEM
TANGO
VERTEX serije
Analiza mikrodelcev
Več informacij >
Študije emisivnosti
Več informacij >
GC - FTIR analiza
Več informacij >
Fotoakustična spektroskopija
Več informacij >
Fotoluminiscenčna spektroskopija
Več informacij >
Spremljanje reakcij
Več informacij >
Vzvratni inženiring
Več informacij >
Termogravimetrija - FTIR analiza
Več informacij >
Časovno rešena FTIR spektroskopija
Več informacij >
Napredne raziskave in razvoj
Analiza mikrodelcev
Študije emisivnosti
GC - FTIR analiza
Fotoakustična spektroskopija
Fotoluminiscenčna spektroskopija
Spremljanje reakcij
Vzvratni inženiring
Termogravimetrija - FTIR analiza
Časovno rešena FTIR spektroskopija
Premazi, lepila
Izobraževanje
Okoljske študije
Hrana, krma, agronomija
Forenzična znanost
Geologija, umetnost
Industrija
Bioznanost
Farmacija
Plastika in polimeri
Petrokemija
Polprevodniki
Analiza tankih nanosov, površine
Naročite se na NOVICE
Vas zanima naša ponudba, aplikacije in dogodki? Naročite se na naše novice.
Pustite to polje prazno
Soglašam s
splošnimi pogoji
.
Pošlji >